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光干涉型瓦檢儀(高濃度/低濃度) 型號:CJG10/CJG100H庫號:M391413

光干涉型瓦檢儀(高濃度/低濃度) 型號:CJG10/CJG100H庫號:M391413

簡要描述:
光干涉型瓦檢儀(高濃度/低濃度) 型號:CJG10/CJG100H庫號:M391413
工作原理:
由光源發出的散射光經聚光鏡聚焦的光束到達平面鏡,其中一部分光束通過平面鏡反射,經氣室的空氣到達折光棱鏡,折光棱鏡將其折射回另一側的空氣室后回到平面鏡并折射到后表面的反射膜上,通過反射膜反射到反射棱鏡后經偏折進入望遠鏡系統

產品時間:2017-03-28

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廠商性質:生產廠家

生產地址:

光干涉型瓦檢儀(高濃度/低濃度) 型號:CJG10/CJG100H庫號:M391413

產品簡介:
該產品應用光干涉原理,可迅速準確地測定存在易燃易爆可燃性氣體混合物的環境空氣中的甲烷、二氧化碳等氣體濃度,測量準確,視場清晰,調校、使用方便。

主要特點及用途:
光干涉式甲烷測定器時一種應用光干涉原理,測量甲烷、二氧化碳燈氣體濃度的便攜式儀器,儀器具有測量精度高、操作簡單快捷、使用方便等特點。主要用于存在易燃、易爆可燃性氣體混合物的工作環境中測量甲烷濃度。

工作原理:
由光源發出的散射光經聚光鏡聚焦的光束到達平面鏡,其中一部分光束通過平面鏡反射,經氣室的空氣到達折光棱鏡,折光棱鏡將其折射回另一側的空氣室后回到平面鏡并折射到后表面的反射膜上,通過反射膜反射到反射棱鏡后經偏折進入望遠鏡系統。另一部分光束折射入平面鏡后,在其后表面反射膜反射,穿過氣室的甲烷經折光棱鏡反射又回經甲烷室到平面鏡,經平面鏡的反射后與上述部分光束一同進入反射棱鏡,經偏折進入望遠鏡系統。由于光程差的結果,在物鏡的焦平面上產生干涉條紋,通過目鏡既能觀察到干涉條紋。當甲烷室與空氣室都充滿相同的氣體時,干涉條紋位置不移動,但當甲烷抽進甲烷室,由于光束通過的介質發生改變,干涉條紋相對原位置移動一段距離。測量這個位移量,便可知甲烷在空氣中的含量。
光干涉型瓦檢儀(高濃度/低濃度) 型號:CJG10/CJG100H庫號:M391413

光干涉型瓦檢儀(高濃度/低濃度) 型號:CJG10/CJG100H庫號:M391413

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